锂电池具有高能量密度、高电压、寿命长、无记忆效应等优点 , 是21世纪发展的理想电源 。锂电池可广泛应用于 3C 领域 , 比如手机、平板电脑、笔记本电脑、可穿戴式设备等 , 因而也被称为3C锂电池 。由于3C锂电池易因短路、过充等原因导致烧毁或爆炸 , 具有一定危险性 , 所以3C锂电池测试是锂电池制造和组装中必不可少的环节 , 是锂电池性能实现和安全可靠使用的有力保障 。3C锂电池测试项目主要包括一致性、功能性、安全性、可靠性及工况模拟等五个方面 。
3C锂电池
3C锂电池测试中对电池测试模组的选择很重要 , 现在市场上有两种电池测试模组被广泛应用 , 一是凯智通大电流弹片微针模组 , 二是pogo pin探针模组 。通过这两者的优劣势对比 , 可以更直观的分辨哪一个更符合3C锂电池测试需求 。
从目前的市场趋势来看 , 3C电子产品内部空间集成度高 , pitch在不断的缩小 , pogo pin探针模组在小pitch领域的适应性较差 , 只能应对0.3mm-0.4mm之间的pitch值 , 寿命和稳定性都较差 。3C锂电池测试对电流的需求较大 , 探针模组能承载的额定电流仅为1A , 电流在传输过程中会在不同部位衰减 , 造成连接的不稳定 。
大电流弹片微针模组
凯智通大电流弹片微针模组无论是面对小间距还是大电流 , 都有完美的应对方法 。在小pitch领域里面 , 大电流弹片微针模组可取的pitch值在0.15mm-0.4mm之间 , 性能稳定可靠 。面对大电流测试要求 , 大电流弹片微针模组可通过的额定电流最大为50A , 在1-50A的范围内电阻恒定 , 几乎没有电流衰减 , 具有很好地连接功能 , 能最大限度的保证3C锂电池测试的稳定性 。
pogo pin探针模组
从使用寿命上来说 , pogo pin探针模组的测试寿命在5w次左右 , 大电流弹片微针模组的测试寿命在20w次以上 , 对比pogo pin探针模组整整多了四倍!况且pogo pin探针模组为多组件结构 , 制作工艺复杂 , 生产难度高 , 交期长;大电流弹片微针模组则是一体成型的弹片结构 , 轻薄、扁平还能按照客户的要求定制 , 生产难度低 , 交期也短 。这么一对比 , 大电流弹片微针模组的性价比简直不要太高!
从母座测试良率来对比 , pogo pin探针模组针对BTB连接器母座几乎无法实现 , 稳定性极差 , 大部分采用轻触方案来临时对应 , 母座测试良率不到80%;大电流弹片微针模组在母座上有特殊对应的方法 , 用斜口型(也称尖头型)弹片头部插入连接器内端子使其保持一定的张开量 , 这样可以保证弹片接触面与BTB连接器端子两面一直保持接触状态 , 使测试稳定 , 母座测试良率高达99.8%(某些产品可以达到100%) 。
大电流弹片微针模组测试效率高 , 稳定性好 , 在同一产品上测试前与测试后对比 , 连接器基本看不到扎痕 , 对产品不会造成任何的损害 , 是比pogo pin探针模组更值得选择和信赖的电池测试模组 。
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