雷射检测 _生活百科

雷射检测【雷射检测】雷射检测技术套用十分广泛，如雷射干涉测长、雷射测距、雷射测振、雷射测速、雷射散斑测量、雷射準直、雷射全息、雷射扫描、雷射跟蹤、雷射光谱分析等都显示了雷射测量的巨大优越性。雷射外差干涉是纳米测量的重要技术。雷射测量是一种非接触式测量，不影响被测物体的运动，精度高、测量範围大、检测时间短，具有很高的空间解析度。
基本介绍中文名：雷射检测技术
外文名：Laser detection technology
套用：雷射干涉测长、雷射测距等
原理：雷射测距原理、雷射测位移原理
特点：非接触式测量
优势：精度高、测量範围大、检测时间短
测距原理先由雷射二极体对準目标发射雷射脉冲。经目标反射后雷射向各方向散射。部分散射光返回到感测器接收器，被光学系统接收后成像到雪崩光电二极体上。雪崩光电二极体是一种内部具有放大功能的光学感测器，因此它能检测极其微弱的光信号。记录并处理从光脉冲发出到返回被接收所经历的时间，即可测定目标距离。雷射感测器必须极其精确地测定传输时间，因为光速太快。如，光速约为3X10^8m/s，要想使解析度达到1mm，则测距感测器的电子电路必须能分辨出以下极短的时间：0.001m(3X10^8m/s)=3ps要分辨出3ps的时间，这是对电子技术提出的过高要求，实现起来造价太高。但是如今的雷射感测器巧妙地避开了这一障碍，利用一种简单的统计学原理，即平均法则实现了1mm的解析度，并且能保证回响速度。远距离雷射测距仪在工作时向目标射出一束很细的雷射，由光电元件接收目标反射的雷射束，计时器测定雷射束从发射到接收的时间，计算出从观测者到目标的距离；LED白光测速仪成像在仪表内部积体电路晶片CCD上，CCD晶片性能稳定，工作寿命长，且基本不受工作环境和温度的影响。因此，LED白光测速仪测量精度有保证，性能稳定可靠。测位移原理雷射发射器通过镜头将可见红色雷射射向被测物体表面，经物体反射的雷射通过接收器镜头，被内部的CCD线性相机接收，根据不同的距离，CCD线性相机可以在不同的角度下“看见”这个光点。根据这个角度及已知的雷射和相机之间的距离，数位讯号处理器就能计算出感测器和被测物体之间的距离。同时，光束在接收元件的位置通过模拟和数字电路处理，并通过微处理器分析，计算出相应的输出值，并在用户设定的模拟量视窗内，按比例输出标準数据信号。如果使用开关量输出，则在设定的视窗内导通，视窗之外截止。另外，模拟量与开关量输出可独立设定检测视窗。