IC测试-CP测试中运用到的pattern简介 _测试

IC在CP测试阶段有一个最直接有效的测试手段就是利用来实现相应的测试功能，不仅能承载测试指令，也能作为庞大测试数据的载体。很多人习惯将翻译为“向量” ，我更喜欢将理解为适应IC设计的时序波形，下面简单介绍下到底是什么东西以及其作用。

文章插图
文档从实质上来说就是一串很长的二进制码，不管是文件中所用到的1和0 ，还是P和N ，代表的都是映射到硬件上的驱动高电平或者驱动低电平，用测试的实质也就是通过这些二进制符号组合成符合IC设计需求的时序波形下发给IC和驱动IC的IO状态或者去 IC的某一IO的某时刻的高低状态，以实现控制IC动作或与IC交互传播数据等功能。对于口来说，就是与IC交互的平台；对于普通IO口来说，是IO口的驱动源或者状态的平台。总之，不仅可以用来与IC进行通信，还可以实现对IC的IO口的驱动以及采样和对比状态等。总的来说就像一段波形，其速度、时序、状态、delay时间等，都可以随意编辑，对于IC测试来说不可或缺。
【IC测试-CP测试中运用到的pattern简介】虽然不同机台的格式都有所差异，但是其原理都是大同小异，都是为测试而做的由机台解释并实现的满足IC某一功能的时序和驱动状态的测试工具。可以实现众多的测试功能，降低测试成本。